V8000
LSI ロジックテストシステム テスター一筋の実績を凝縮した、高信頼性のロジックシステム。ランダムロジックLSI等のDCパラメトリックおよびファンクションテスト等を行う機能を有 します。
特長
- 最大256ピン、テストレート20MHzのシステムで、8個同時並列測定が可能。
- このクラスにおいて群を抜いたコストパフォーマンスにより、テストコストの増大に悩むユーザーにとって最適な1台。
- カスタムLSIの採用による高信頼性・省エネ・省スペース設計。取り回しが容易で、工場・オフィス内での移動が簡単。
- MPU、BIST内蔵FLASH等、広範囲のデバイスに対応。
- 当社製V7100／V777ロジックテスターとの下位互換性があり、両テスターで使用してきたテストプログラム等の資産を利用可能。
- 256ピンに対し128chのSPMUユニット（オプション）を有し、DC測定の高速化（約1／4：当社製LSI）を実現。
画面イメージ
※画面写真はサンプルイメージです。
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